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Title: Documentoscopia por Microespectroscopia Raman e Microscopia de Força Atômica
metadata.dc.creator: BRANDAO, J. M. O. B.
Issue Date: 21-Aug-2015
Publisher: Universidade Federal do Espírito Santo
Citation: BRANDAO, J. M. O. B., Documentoscopia por Microespectroscopia Raman e Microscopia de Força Atômica
Abstract: Considerando o forte impacto social e financeiro causado pela falsificação de documentos, principalmente no que se refere às fraudes em papel-moeda, a Documentoscopia forense desempenha um papel fundamental, identificando essas adulterações e determinando sua autoria. A diversidade de métodos empregados nas falsificações, sua crescente disseminação e sofisticação exigem o desenvolvimento de novas metodologias para análise de documentos, que sejam rápidas, sensíveis e não destrutivas, pois o material examinado precisa ser preservado na íntegra para continuidade dos processos judiciais. A Microespectroscopia Raman vem se tornando uma ferramenta muito importante nas análises forenses, pois pode ser realizada diretamente sobre o material; o exame é rápido, não invasivo e não destrutivo, permitindo a direta identificação e caracterização baseada nas características moleculares inerentes de cada material e tem fornecido bons resultados na distinção química de tintas. A Microscopia de Força Atômica também tem se mostrado uma poderosa ferramenta para o estudo de diversos materiais, fornecendo informações sobre a natureza das superfícies, podendo diferenciar o tipo de material e a deposição de tintas; a alta resolução da imagem obtida, a facilidade na preparação de amostras para análise e a disponibilidade de instrumentos comerciais de alta qualidade fazem desta técnica promissora nas análises forenses. Desta forma o objetivo deste trabalho foi desenvolver uma metodologia rápida, sensível e confiável para análise de documentos, utilizando as técnicas de Microespectroscopia Raman e Microscopia de Força Atômica para distinguir os autênticos dos fraudados e determinar os meios empregados nas falsificações. Para o estudo foram utilizadas cédulas de R$100,00 autênticas e fraudadas; carteiras nacionais de habilitação autênticas e falsas; cédulas autênticas de US $ 10,00, US $ 20,00 e 5,00 provenientes de fabricantes diferentes. As análises foram todas realizadas in situ e sem qualquer preparação das superfícies, usando o microscópio confocal Alpha 300R WITEC do NCQP/ UFES, acoplado com microespectroscópio Raman e microscópio de força atômica. Regiões previamente selecionadas foram igualmente analisadas por MR e MFA tanto nos documentos autênticos quanto nos fraudados, e os resultados da microespectroscopia Raman e da microscopia de força atômica mostraram diferenças entre os papéis e os pigmentos utilizados na confecção dos documentos autênticos e fraudados, assim como possibilitaram diferenciar entre dois documentos autênticos fabricados por diferentes empresas, e ainda permitiram predizer o tipo de papel e impressora utilizado nas falsificações. Isso mostra que os dois métodos são promissores para a análise forense de documentos, pois fornecem resultados precisos e reprodutíveis, com rapidez e, principalmente, sem prejuízos ao material analisado.
URI: http://repositorio.ufes.br/handle/10/4739
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